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Detalhes do produto:
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| Cor: | branco | Personalização: | OEM, ODM |
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| Embalagem: | 1 PC/Carton | Garantia: | 1 ano |
| Prazo de entrega: | 40 dias do trabalho | Habilidade da fonte: | 10 PCS/Month |
| Definição: | 3Nm | Ampliação: | 300000X |
| Tensão de aceleração: | 1~30kV | Detecção de sinal: | Detector de elétron secundário (SED) |
| Arma de elétron: | forquilha-tipo de tamanho médio Pre-alinhado filamento do tungstênio | Tamanho de Max Sample: | 370mm no diâmetro, 68mm na altura |
| Auto função: | Auto contraste do brilho, auto foco | Sistema do vácuo: | Melhor de Pa 9 x 10-4 sob o vácuo alto |
| Realçar: | Microscópio de elétron da exploração da EBS,microscópio de elétron da exploração da definição 3nm,Microscópio de elétron tabletop da exploração do EDS |
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Definição do microscópio de elétron 3nm da exploração da ampliação 1X-300000X com EBS, EDS, o EBSD, o WDS e CL opcionais
M22006 é um microscópio de elétron eficaz na redução de custos da exploração do filamento do tungstênio para a observação de microestrutura do nanoscale. Tem uma ampliação até de 300,000x e de uma definição melhor do que 3nm e é equipado igualmente com uma câmara da amostra do diâmetro de 370mm. É um microscópio de elétron de capacidade elevada da varredura com definição ultra-alta e qualidade excelente da imagem. A ampliação é continuamente ajustável, e as imagens claras com brilho alto podem ser obtidas no campos diferentes da vista. A profundidade de campo é grande e a imagem é rica no estéreo. Equipado com grande um modo da câmara da amostra da baixa tensão e expande extremamente a escala de aplicações.
Specials:
- Ampliação 300000X máximo.
- Detecção de sinal: Detector de elétron secundário (SED).
- Tensão de aceleração: 1~30KV, definição de imagem alta.
- BSE/EDS/EBSD/WDS/CL é opcional, para a análise componente.
- Sistema do vácuo alto.
- Linha central três automática (padrão).
| Artigo | Especificação | M22006 |
| Definição | 3nm@30kV (SE) | ● |
| Ampliação | 1X~300000X | ● |
| Tensão de aceleração | 1~30kV | ● |
| Detecção de sinal | Detector de elétron secundário (SED) | ● |
| Arma de elétron | forquilha-tipo de tamanho médio Pre-alinhado filamento do tungstênio | ● |
| Auto função | Auto contraste do brilho, auto foco | ● |
| StageSystem/movimento | Método de controle: Válvula automática | ● |
| Bomba de Turbomolecular: 240 L/S | ● | |
| Bomba mecânica: ³ /h de 12 m (50 hertz) | ● | |
| Câmera: Navegação ótica, monitorando na câmara da amostra | ● | |
| Configuração da fase da amostra, linha central três automática (padrão) | ● | |
| X: 0~100mm | ● | |
| Y: 0~100mm | ● | |
| Z: 0~60mm | ● | |
| Max Sample Diameter: 370mm | ● | |
| Max Sample Height: 68mm | ● | |
| Linha central cinco automática (opcional) | ○ | |
| X: 0~115mm | ○ | |
| Y: 0~115mm | ○ | |
| Z: 0~65mm | ○ | |
| R: 360° | ○ | |
| T: -10°~75° | ○ | |
| Max Sample Diameter: 370mm | ○ | |
| Max Sample Height: 73mm | ○ | |
| Sistema do vácuo | Melhor de Pa 9 x 10-4 sob o vácuo alto | ● |
| Detector opcional | BSEEDSEBSDWDSCL | ○ |
| Sistema da imagem latente | ≤ 6144 x 4096 do pixel da imagem | ● |
| Formato da imagem: TIFF, JPG, BMP, PNG | ● | |
| Software | Língua: Chinês/inglês | ● |
| Sistema operacional: Windows | ● | |
| Navegação: A navegação ótica, gesticula a navegação rápida | ● | |
| Função especial: Astigmatismo dinâmico | ● | |
| Exigências da instalação | Espaço: L≥ 3000 milímetros, ≥ de W 4000 milímetros, ≥ de H 2300 milímetros | ● |
| Tamanho da porta: ≥ de W 900 milímetros, ≥ de H 2000 milímetros | ● | |
| Temperatura: ℃ 20 ao ℃ 25 | ● | |
| Umidade: ≤ 50% | ● | |
| Ruído: ≤ 45dB | ● | |
| Fonte de alimentação: C.A. 220 V (± 10%), 50 hertz, 2 kVA | ● | |
| Fio à terra: Menos de 4 Ω | ● | |
| Campo magnético da C.A.: Menos NT de 100 | ● |
Nota:● significa o padrão, ○ significa opcional
Galeria
Aplicações
Pessoa de Contato: Johnny Zhang
Telefone: 86-021-37214606
Fax: 86-021-37214610
